GEUS har købt et ZEISS Sigma 300VP Field Emission Skanning Elektron-mikroskop, så vi nu kan tilbyde at lave automatiserede mineralogiske analyser af tyndslib og polerede blokke, hvilket er relevant for minedrift og mineralefterforskning, såvel som undersøgelser af reservoir-bjergarter (i olie- og gas-sektoren eller indenfor geotermisk energi).
Det nye instrument blev installeret i efteråret 2017. Instrumentet er udstyret med 2 Bruker Xflash 6|30 129 eV EDS-detektorer, en Bruker e-FlashFS EBSD-detektor og en 185-850 nm kathodeluminescens-detektor, og det kan fungere under varierende trykforhold, med højt vakuum på 3.25 x 10-4 Pa og lavt vakuum på 2-133 Pa.
Skanning elektron-mikroskopet har softwareplatformen Mineralogic, der er udviklet til mineralefterforskning og karakterisering af reservoir-bjergarter. Med denne software er det muligt at gennemføre automatisk mineralogisk bestemmelse af hele tyndslib, polerede blokke, tungmineral-koncentrater, cuttings-prøver m.m.) og dele heraf.