www.geus.dk
>
Afdelinger
>
Kortlægning
> Siden her
Udskriftsvenlig
|
Bogmærk siden
LABORATORIER
Gerologisk kortlægning
Instrumentering
SEM: Skanning elektronmikroskopi
XRF: Røntgenfluorescens-analyse
ICP-MS: Induktivt koblet plasma massespektrometri
Tyndslib og prøvepræparation
[Til top]
Sidst ændret: 10 december 2005 © De Nationale Geologiske Undersøgelser for Danmark og Grønland -
GEUS
Øster Voldgade 10, 1350 København K - Tlf.: 38142000 - Fax: 38142050 - E-post:
geus@geus.dk
Siden vedligeholdes af:
webredaktøren
Udskriftsvenlig Udskriftsvenlig 
