Nyheder fra GEUS

Tilbage

27. juli 2017

Nyt skanning electron mikroskop til forbedret mineralogisk analyse kommer snart til GEUS

GEUS har købt et ZEISS Sigma 300VP Field Emission Skanning Elektron mikroskop, så vi nu kan tilbyde at lave automatiserede mineralogiske analyser af tyndslib og polerede blokke, hvilket er relevant for minedrift og mineralefterforskning, så vel som undersøgelser af reservoir bjergarter (i olie og gas sektoren eller indenfor geotermisk energi).

Det nye instrument bliver leveret og installeret i efteråret 2017. Instrumentet bliver udstyret med 2 Bruker Xflash 6|30 129 eV EDS detektorer, en Bruker e-FlashFS EBSD detektor, en 185-850 nm kathodeluminescens detektor, og det vil kunne fungere under varierende tryk forhold, med højt vakuum på 3.25 x 10-4Pa og lavt vakuum på 2-133 Pa.

Skanning elektron mikroskopet har software platformen Mineralogic, der er udviklet til mineralefterforskning og karakterisering af reservoir bjergarter. Med denne software er det muligt at gennemføre automatisk mineralogisk bestemmelse af hele tyndslib, polerede blokke, tungmineral koncentrater, cuttings prøver m.m.) og dele heraf.

Læs mere om SEM Laboratoriet ved GEUS
www.geus.dk/DK/services/labs/sem-lab/Sider/default.aspx

Spørg os hvis du gerne vil høre mere:
Seniorforsker Nynke Keulen, GEUS
Afdeling for Petrologi og Malmgeologi
Tlf.: 91 33 38 73
E-mail: ntk@geus.dk

Seniorforsker Rikke Weibel, GEUS
Afdeling for Reservoirgeologi
Tlf.: 91 33 37 77
E-mail: rwh@geus.dk

Startside